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| Photoionization Aerosol Mass Spectrometry (PIAMS)
光离子化气溶胶质谱 |
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| | | | LSI的集成电路生产测试系统 |
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| 应用超声断层摄影（SAT）进行半导体封装测试 |
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应用Acqiris技术研发硬盘伺服定位控制系统
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随着在记录介质上每英吋磁轨数目(TPI)和每英吋比特数(BPI)日益增长，硬盘存储测试工业一直致力于提高数据存储测试密度。在研发更高存储测试密度的记录(设备)时， 针对磁头和介质在工程与生产环境下的高速检测，传统上注重于自旋支架和磁头测试仪。1 TB/in2 的记录密度大约需要每英吋四十万的磁轨。磁盘和悬浮振动以及气悬式转轴马达非重复性跳动(run-out)将会引起在几纳米范围内的失准(misregistration)，而这些问题是必须加以解决的
获取位置错误信号（PES），执行控制算法和以需要的频率升级控制输出都是作为自旋支架和硬盘（HDD）伺服系统基本的任务。当今的技术，增加一微驱动器或在硬盘的读写磁头组件上应用主动悬挂，十分有助于扩展伺服定位的带宽(范围)和增加每英吋磁轨(TPI)的性能。这种新的方法寻求改善高速测试，而该测试则需要更高的数采和测量采样速率。
这个方法利用一个外部的低功耗的基于PC系统的Acqiris DP210 8位高速 PCI 数字仪板卡作为对取样500MS/s的伺服频率编码伺服码型(PESP)。这个系统利用了数字回读(readback)信号来计算位置错误信号（PES）。其回读信号则是由DP210取得并数字化因此提升了采样率从而改善了定位精度达20％。
> 相关应用指南
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