| | | | | | | | 正电子发射摄影术 (PET) | | | | | | 硬盘伺服定位 | | | | | | (TOF)质谱仪 | |
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| Photoionization Aerosol Mass Spectrometry (PIAMS)
光离子化气溶胶质谱 |
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| 应用超声断层摄影（SAT）进行半导体封装测试 |
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| | | | LSI的集成电路生产测试系统 | | | | | | | | | |
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模式化数采技术协助提高大规模集成电路(LSI)的产能
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随着集成电路的飞速发展，从50年代发明时仅仅容纳10只晶体管到今天的数百万只，芯片的复杂度水平以及电路元件密度已到相当可观的程度。ATE(自动测试设备)在测试系统部件上有着出色的表现。而半导体生产厂商不断追求从现有的晶片上提高产能，并维持测试的灵活性，从而降低生产测试成本。
传统的ATE，尽管速度很快，通常是套封闭系统，专门设计用来测试特定的器件. 当对新开发的器件进行新的测试时，则需要使用新系统或对原系统进行大规模修改.考虑到当今用于通信，家庭娱乐及其它领域里IC功能的发展速度.这将是一个非常昂贵的使命. 即使应用订制生产线测试系统，其结果也未必像你期望的那样可靠。因为一些测试指标可能太高了。导致不必要地增加测试成本或者太低以至于不能准确地提供所需数据。
集成于模块化的生产测试系统中，高速数据采集技术迅速赢得了声望.主要在于该技术带到最终系统中的灵活性和成本有效性。消费类电子生产厂商正在意识到搭建模块化测试系统所带来的好处，而这些模块化系统正是在他们大规模集成电路ATE系统中应用了高速数字化仪作为多功能数据采集。
> 相关应用指南 |
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