AgilentAgilentAgilentAgilent
主页 公司 产品 技术 应用 支持
商业&工业 国防&航天 研究&教育
ContactEventsSite Map
商业 & 工业
医疗影像
正电子发射摄影术 (PET)
存储测试
硬盘伺服定位
生物技术
(TOF)质谱仪
环境监测
Photoionization Aerosol Mass Spectrometry (PIAMS)
光离子化气溶胶质谱
半导体测试(无损检测)
应用超声断层摄影(SAT)进行半导体封装测试
半导体测试
LSI的集成电路生产测试系统
国防 & 航天
研究 & 教育
半导体测试
应用超声断层摄影(SAT)技术进行半导体封装测试
领先的超声检测系统的生产厂商和设计者将Acqiris技术集成到强大的超声断层扫描摄影(Scanning Acoustic Tomography, SAT) 进行故障分析和过程控制。基于声音在材料中的传输和反射, 这些系统能够对封装半导体器件的各个独立结构层面进行断层摄影。

                wusun

    > 相关应用指南

LSI Circuit Production Test System


使用条款 & 隐私声明 | 联系我们 | Agilent © 2000-2008