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作为全球领先的测量设备公司，安捷伦科技能够为您提供高质量的测试解决方案，帮助您走向成功。这也正是安捷伦引以自豪之处。 我们期待与您相会在ADMF 2008。 请立即注册！不要错过活动结束时的幸运抽奖机会！
鉴于本次研讨会的席位有限，建议您尽早报名。
专题1：数字设计和测试的未来展望 专题2：DigRF v3和MIPI引领移动数字无线技术的演进 数字无线接口标准正在蓬勃发展。以前在RFIC和BBIC之间的模拟IQ接口正在被数字IQ所替代。另外，随着移动应用的迅速发展――例如，照相机和LCD显示屏还有更多的数字输入和输出（IO）不断涌现。本专题将提出并讨论一种针对DigRF v3和MIPI接口的测试方法，使您的测试变得更轻松、更高效。 专题3：通过硬件实现的低速串行总线设计验证测试技术 在大多数嵌入式设计中都含有低于兆位的低速串行总线。UART、RS232、I2C、SPI、CAN、LIN和FlexRay等串行总线通常可以提供对设计进行调试的关键突破口。本专题将讨论最新的示波器解决方案如何简化低速串行触发和解码，以及如何观察长时间的串行通信。另外，还将介绍如何适当地选择硬件加速或基于软件的协议解码，并阐述使用DSO和MSO进行低速串行调试的主要差异。 专题4：微芯科技单片机全速USB设计（由微芯科技提供） 本专题将概括介绍一下微芯科技公司及其产品线。此外，本专题还将介绍微芯科技全速USB微控制器系列、演示电路板、开发工具和调试工具，包括8位、16位和32位MCU，以及一些支持移动功能的USB器件。我们还将向您介绍如何从微芯科技获得源代码样例和USB协议栈，以及技术支持等。 专题5：开关电源的自动测试和分析技术及方案 今天，电源设计者在开发高效可靠和低成本的电源时，所面临的限制也在不断增加。对他们来说，非常有必要进行全面的电源测量，以便高效率地表征开关电源设备和线路电源，进而改进电源和谐波质量以及电源输出的纹波/噪声等。本专题将向您阐述如何利用Agilent 6000、7000和8000系列中档示波器中最新的电源测量应用软件来自动、一致和快速地表征现代开关转换模式的电源。 专题6：结合MATLAB将Infiniium系列示波器变为更加强大的调试分析工具 您是否感觉到示波器的标准运算和分析功能无法满足您的测量要求？您是否希望创建自己的数学函数或滤波器来满足特殊的需求？随着目前复杂信号的增加，由示波器提供的标准分析方法有时显得有点力不从心。 在本专题中，我们将讨论如何迎接以上挑战。来自Mathworks和Agilent的专家将向您介绍如何将MATLAB软件和Agilent Infiniium示波器有机地结合起来。除了介绍如何将Matlab整合到现有的软件功能以外，本专题还将向您介绍新一代高性能实时示波器的其他高级特性。 专题7：基于锁相环设计的电路系统抖动的评估和测量 虽然下一代串行总线的数据速率通常会比上一代快一倍，但是成本却不会翻倍。使用低成本器件、特殊的参考时钟和集成的VCO，对系统发射机和接收机中的锁相环（PLL）和DLL电路施加极大的负载。了解并掌握PLL和时钟恢复电路的作用是控制抖动性能的关键。本专题将解释系统（时钟、PLL、DLL等）中各种器件的设计和性能如何相互作用，并最终影响整体系统抖动预算。本专题还将详细讨论PLL测量技术。 专题8：如何用ChipScope Pro调试工具结合安捷伦科技的逻辑分析仪或混合信号示波器分析基于FPGA的PowerPC440设计（由Xilinx Asia Pacific Pte Ltd提供） 由于越来越多的功能集成到芯片中，对基于FPGA的设计进行调试也面临着越来越多的挑战。因为对硬件/软件接口的可视性有限，所以不管是调试硬件问题还是软件问题都非常麻烦。使用业界标准的软件调试工具和片上及片外逻辑分析工具，以及在每个工具之间的交叉触发能力对设计进行调试，这种方法较之以前的调试方法更为直接。本专题将阐述该调试过程。 专题9：USB3.0： 超高速USB产品开发的技术及其挑战 对更多系统带宽的需求会对新的多千兆位高速串行互连标准提出加快设计和后续速度的要求。在速率为480Mb/s时，USB 2.0已成为系统性能的瓶颈。USB 3.0超高速产品的推出将极大地推进USB设备的性能。USB 3.0的设计难点在于采用5.0 Gb/s数据速率时，串行连接必须能够向后兼容，并且必须通过外部连接器和电缆来实现。本专题将提供USB 3.0的体系结构概述，并讨论重要的设计考虑因素，以及USB 3.0产品设计人员将要面临的挑战。 
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数字设计和测试技术及其趋势
